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PIKE衰减全反射附件的应用与特点

    衰减全反射(Attenuated Total Reflection,ATR):光波入射时,入射面内偏振的单色平面光波在密-疏媒质的界上全反射时,光疏媒质中所形成的迅衰场(见衰减波)量可以被耦合到金属或半导体的表面上而使表面等离激元(SP)或表面极化激元共振激发。全反射的光强因而发生剧邃衰减的现象。
    利用光学中的迅衰场与SP相耦合衰减全反射方法在1968年由A.奥托提出。
    PIKE衰减全反射附件被广泛应用于塑料、纤维、橡胶、涂料、粘合剂等高分子材料制品的表面成份分析。它是一个通用型的附件,可以用来分析,固体,液体,糊状物,凝胶剂,及其它难处理的材料。 PIKE衰减全反射附件克服了传统透射法测试的不足,简化了样品的制作和处理过程,极大地扩展了红外光谱的应用范围。
特点:
    高红外通量
    多种晶体可选 - ZnSe, Diamond, Ge and Si crystal plates
    温度控制附件

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